x射線光電子譜儀與能譜儀檢測費(fèi)用

免費(fèi)初檢。因檢測項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測時(shí)間：一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）。有的項(xiàng)目可加急1.5天出報(bào)告。

x射線光電子譜儀與能譜儀檢測報(bào)告用途

報(bào)告類型：電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)。

檢測用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

x射線光電子譜儀與能譜儀檢測報(bào)告如何辦理？檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線光電子譜儀與能譜儀檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試和評(píng)估。做檢測，找百檢。我們只做真實(shí)檢測。

涉及x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)有26條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子譜儀與能譜儀涉及到分析化學(xué)、長度和角度測量、光學(xué)和光學(xué)測量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子譜儀與能譜儀涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子測量與儀器綜合。

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀鑒定方法

GB/T 22571-2008表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 16129-2020表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1217-11(2019)用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2108-16X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1217-11用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2108-10X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1217-05用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2108-05X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2108-00X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1217-00用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E902-94(1999)檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 16129-2018表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法

ISO 16129:2012表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序

ISO 16129-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程

ISO 15472:2010表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀——能量標(biāo)度的校準(zhǔn)

ISO 21270:2004表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀——強(qiáng)度標(biāo)度線性

ISO 21270-2004表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 16129-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程

韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 21270-2005表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

KS D ISO 21270-2005表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 15470-2005(2020)表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明

KS D ISO 21270-2005(2020)表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 10714-1996檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法

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