x射線熒分析儀檢測(cè)費(fèi)用

免費(fèi)初檢。因檢測(cè)項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間：一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）。有的項(xiàng)目可加急1.5天出報(bào)告。

x射線熒分析儀檢測(cè)報(bào)告用途

報(bào)告類型：電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)。

檢測(cè)用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

x射線熒分析儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線熒分析儀檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)有16條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線熒分析儀涉及到核能工程、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、輻射防護(hù)、分析化學(xué)、輻射測(cè)量、耐火材料。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線熒分析儀涉及到放射性同位素應(yīng)用儀器、放射衛(wèi)生防護(hù)、核儀器與核探測(cè)器綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、化學(xué)計(jì)量、通用核儀器、硅質(zhì)耐火材料。

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 35734-2017便攜式管激發(fā)X射線熒光分析儀 分類、安全要求及其試驗(yàn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家衛(wèi)生和計(jì)劃生育委員會(huì)，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

GBZ 115-2002X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

衛(wèi)生部國(guó)家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

GBZ 115-2002X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB 16355-1996X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 15632:2021微束分析.與掃描電子顯微鏡（SEM）或電子探針顯微分析儀（EPMA）一起使用的能量色散X射線光譜儀（EDS）規(guī)范和檢查用選定儀器性能參數(shù)

ISO/TR 19319:2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.用分析儀觀察橫向分辨率 分析面積和樣品面積的測(cè)定

工業(yè)和信息化部/國(guó)防科技工業(yè)局，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

EJ/T 684-2016便攜式能量色散X射線熒光分析儀

工業(yè)和信息化部/國(guó)家能源局，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 12962.2-2016能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀

JB/T 12962.3-2016能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

JC/T 1085-2008水泥用X射線熒光分析儀

，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定

KS D ISO 14706-2003(2018)表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測(cè)定硅片表面元素雜質(zhì)

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1133-2005X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

EJ/T 767-1993放射源激發(fā)的x射線熒光分析儀

EJ/T 684-1992便攜式源激發(fā)X射線熒光分析儀

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線熒分析儀的標(biāo)準(zhǔn)

BS 1902-9.1-1987耐火材料試驗(yàn)方法.第9部分:化學(xué)分析儀法.第1節(jié):硅酸鋁耐火材料X射線熒光分析法

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多檢測(cè)相關(guān)信息請(qǐng)咨詢公司官方客服。