翹曲度檢測(cè)費(fèi)用

免費(fèi)初檢。因檢測(cè)項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間：一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）。有的項(xiàng)目可加急1.5天出報(bào)告。

翹曲度檢測(cè)報(bào)告用途

報(bào)告類(lèi)型：電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)。

檢測(cè)用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣(mài)場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

檢測(cè)中心提供的翹曲度檢測(cè)服務(wù)的適用樣品，包括但不僅限于IC封裝基板、PCB板、硅片、太陽(yáng)能電池板、玻璃、塑料板、木板、刨花板、金屬板、石板、鋁塑板、瓷磚、地板等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

翹曲度檢測(cè)、平面度檢測(cè)、彎曲強(qiáng)度、撓度、彎曲應(yīng)力、抗折強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度

GB/T 32280-2015 硅片翹曲度檢測(cè) 自動(dòng)非接觸掃描法

GB/T 31352-2014 藍(lán)寶石襯底片翹曲度檢測(cè)方法

GB/T 30859-2014 太陽(yáng)能電池用硅片翹曲度和波紋度檢測(cè)方法

GB/T 25257-2010 光學(xué)功能薄膜 翹曲度測(cè)定方法

GB/T 6620-2009 硅片翹曲度非接觸式檢測(cè)方法

EN 60191-6-19-2010 半導(dǎo)體器件的機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)化.第6-19部分:高溫下的封裝翹曲度測(cè)量方法和大允許翹曲度

JJG(輕工) 108-1996 翹曲度指示器檢定規(guī)程

GOST 24053-1980 刨花板.翹曲度測(cè)定法

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